自動劃片機

北京飛凱曼公司提供自動劃片機。劃片機利用高速旋轉(zhuǎn)的鑲嵌金剛石顆粒的超薄刀片，在水冷卻的條件下將大片的器材切割成小片。其較典型應用是將半導體圓片劃成芯片，是電子產(chǎn)品生產(chǎn)中不可或缺的設備。本劃片機可對多種基材進行切割劃片,包括：硅集成電路，發(fā)光二極管，鈮酸鋰，壓電陶瓷，砷化鎵，藍寶石，氧化鋁，氧化鐵，石英，玻璃，陶瓷，太陽能電池片等材料的劃切加工。 日本NDS公司提供的NANO320是一款滿足12英

2014-06-18 面議/臺

準確劃片機

北京飛凱曼公司提供精密劃片機。日本APCO公司精密劃片機系列，型號包括AMC－7600，7800，8000。廣泛應用于硅片、光掩膜、液晶顯示器用TFT、石英、集成電路器件等樣品橫斷面的切割。劃片精度±2.5微米，適用于較大達8英寸，厚度0.6至10毫米樣品，可確保獲得光滑的橫斷面以便于進一步觀察。具有CPU控制，操作簡便，制備速度快，可以刻劃平坦或彎曲的樣品。目前，包括東芝、索尼、愛普生、IBM、

2014-06-18 面議/臺

應力雙折射測試儀

北京飛凱曼科技公司提供2維平面成像應力雙折射測試儀，能夠快速、精準測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領域。 我們針對相位差差別比較小的樣品，要求測量速度高的應用，專門開發(fā)了PA系列小相位差高速型應力雙折射測試儀，其關鍵是測量速度快。 技術參數(shù)： 型號 PA-110 PA-110-L P

2014-06-18 面議/臺

大范圍應力雙折射測試儀

北京飛凱曼科技公司提供2維平面成像應力雙折射測試儀，能夠快速、精準測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領域。 WPA型應力雙折射測試儀是一款專門用于相位差在幾千納米范圍內(nèi)的樣品的測試，它能夠測量出樣品的相位差分布。 主要參數(shù)表 型號 WPA-100 WPA-100-L WPA-100-S

2014-06-18 面議/臺

磁旋光玻璃

北京飛凱曼公司提供法拉第磁旋光玻璃器件。法拉第磁光玻璃/法拉第旋光玻璃材料用于可見光及近紅外波段大功率激光輸出控制。通常它用于制作基于法拉第效應的法拉第旋轉(zhuǎn)元件，如光隔離器、環(huán)形器、磁光調(diào)制器、高速光開關、梳狀濾波器、激光陀螺、激光測角儀、磁光信息處理系統(tǒng)、強磁場和高壓傳輸線上的電流測量傳感器、空間光調(diào)制等光功能裝置。 ? 由于TGG晶體的生長工藝、尺寸、價格等問題，其發(fā)展受到了限制。磁光玻璃

2014-05-01 面議/片

變溫霍爾效應測試儀

京飛凱曼公司提供連續(xù)變溫霍爾效應測試儀。臺灣SWIN公司生產(chǎn)的變溫霍爾效應測試儀?(Hall Effect Measurement System)是性能穩(wěn)定、功能強大、性價比高的霍爾效應儀，在國內(nèi)高校、研究所及半導體業(yè)界擁有廣泛的用戶和知名度。本儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或體材料均可，其原理主要依據(jù)范德堡法則。? 除

2014-03-23 面議/臺

間隙測量儀

北京飛凱曼公司提供間隙測量儀。美國Capacitec公司Capman Gen3型非接觸式精度間隙測量儀較小可測量間隙達到0.19mm。 產(chǎn)品特點： --非接觸式，高精度?技術參數(shù)： 可測量間隙：0.22mm~2.54mm（標準），可根據(jù)要求定制?分辨率：0.1%量程?重復精度：±0.5%量程?精度：±0.5%（平面間隙），±1%（滾筒間隙） 產(chǎn)品應用：主要應用于航空，汽車，薄膜，膠帶，打印

2014-03-12 面議/臺

孔徑測量儀

北京飛凱曼公司提供孔徑測量儀。CMS-3孔徑測試儀主要應用在飛機機身或者工業(yè)上需要測量大量孔徑的場合，測量速度快速準確。測量儀內(nèi)置48個非接觸式電容傳感器，在3秒內(nèi)，一次可測量孔內(nèi)6個不同位置的24個直徑，同時顯示出較大/較小值，并根據(jù)之前所設定的參數(shù)顯示孔徑是否合格。美國Capacitec公司設計并制造非接觸電容移位傳感器、間隙檢測器、孔內(nèi)探針及平行傳感系統(tǒng)（包括硬件、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和軟件），過經(jīng)

2014-03-12 面議/臺

變溫（高低溫）探針臺

北京飛凱曼公司提供連續(xù)變溫（高低溫）真空探針臺系統(tǒng)。變溫真空微探針臺系統(tǒng)設計用于半導體材料如砷化鎵（GaAs）、非晶硅碲鎘汞等需要低溫（70K）至高溫（730K）下的測試需要。變溫微探針系統(tǒng)可提供準確的溫度控制和無振動無噪音的工作環(huán)境。該微探針系統(tǒng)具有1到7根獨立控制的探針，每根探針帶有可三軸移動線纜，可直線移動，可準確定位，定位精度優(yōu)于50微米，該平臺可執(zhí)行寬范圍的測試和實驗，包括：材料的電子表

2014-03-12 面議/臺